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過壓保護設(shè)計能否兼顧系統(tǒng)精度與可靠性?

來源:中芯巨能:提供選型指導+樣片測試+現(xiàn)貨供應| 發(fā)布日期:2025-06-15 14:00:01 瀏覽量:

在工業(yè)自動化、測試測量和高精度傳感器接口等應用中,電子系統(tǒng)常常面臨嚴苛的電壓瞬變環(huán)境。過壓事件不僅可能損壞敏感的模擬前端器件(如ADC或運算放大器),還可能導致信號鏈誤差甚至系統(tǒng)失效。傳統(tǒng)的分立式過壓保護方案雖然有效,但往往引入額外的電路復雜性、信號失真以及空間限制,迫使工程師在性能與保護之間做出權(quán)衡。

那么,是否存在一種既能提供強大過壓防護能力,又不影響系統(tǒng)精度與響應速度的解決方案?ADI的ADG5412F故障保護開關(guān)為此提供了有力答案。

一、傳統(tǒng)分立式過壓保護方案的局限

常見的過壓保護方法是在信號路徑中并聯(lián)TVS(瞬態(tài)電壓抑制)二極管,并串聯(lián)限流電阻。例如,在正向過壓時,電流通過D1流向VDD進行箝位;負向過壓則通過D2箝位至VSS。這種方式能快速響應瞬態(tài)脈沖,但存在以下問題:

引入寄生電容:影響高頻信號完整性,增加上升/下降時間;

泄漏電流風險:需加裝限流電阻以防止TVS損壞;

斷電狀態(tài)下無保護:當IC未上電時,內(nèi)部保護二極管仍可能導通,導致電流流入電源軌;

占用PCB空間:多個分立元件增加了布局難度。

此外,這些附加元件可能引入非線性效應,進而影響系統(tǒng)的整體測量精度。

二、集成式故障保護開關(guān)架構(gòu)的優(yōu)勢

過壓保護設(shè)計能否兼顧系統(tǒng)精度與可靠性?

ADG5412F采用了一種創(chuàng)新的故障保護架構(gòu),內(nèi)置雙向ESD單元與過壓檢測機制,能夠在不依賴外部元件的情況下實現(xiàn)±55 V的永久過壓保護和高達5.5 kV的人體模型(HBM)靜電放電(ESD)耐受能力。

其工作原理如下:

當輸入電壓超過VDD或低于VSS時,內(nèi)部ESD結(jié)構(gòu)自動將瞬態(tài)能量吸收;

若出現(xiàn)持續(xù)過壓,受影響通道會立即斷開,切斷電流路徑;

其他正常通道繼續(xù)工作,不影響系統(tǒng)運行;

關(guān)斷狀態(tài)下泄漏電流極低,無需外接限流電阻。

這種架構(gòu)避免了傳統(tǒng)方案中因二極管導通而導致的誤動作問題,確保即使在IC掉電狀態(tài)下,輸入端依然受到保護。

三、ADG5412F關(guān)鍵性能指標解析

ADG5412F是一款四通道SPST模擬開關(guān),專為高可靠性工業(yè)環(huán)境設(shè)計,具備以下特性:

寬供電范圍:支持±5 V至±22 V雙電源,或8 V至44 V單電源;

低導通電阻(RON):典型值10 Ω,平坦度僅0.5 Ω,保證信號保真度;

高ESD耐受能力:每個引腳均可承受5.5 kV HBM ESD沖擊;

防閂鎖設(shè)計:在極端條件下保持穩(wěn)定;

關(guān)斷狀態(tài)保護:在無電源供電時也能防止過壓損壞;

智能通道隔離:僅關(guān)閉發(fā)生故障的通道,其余通道不受影響。

這些特性使其非常適合用于高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、PLC模塊、工業(yè)傳感器接口等對可靠性和信號完整性要求較高的場景。如需ADG5412F產(chǎn)品規(guī)格書、樣片測試、采購、BOM配單等需求,請加客服微信:13310830171。

四、實際應用中的優(yōu)勢對比

特性傳統(tǒng)分立方案ADG5412F集成方案
過壓保護能力±30V ~ ±40V(受限于TVS)±55V永久保護
精度影響高寄生電容、電阻誤差RON低且平坦
斷電保護支持
PCB面積大(需TVS + 電阻)小(單芯片封裝)
泄漏電流需限流電阻控制極低,無需額外元件
成本中等偏高更優(yōu)性價比

五、總結(jié):是否可以在不過度犧牲性能的前提下實現(xiàn)強健的過壓保護?

答案是肯定的。ADG5412F通過集成雙向ESD單元和智能過壓檢測機制,成功實現(xiàn)了在不犧牲信號鏈精度的前提下,提供高等級的過壓和ESD防護能力。相比傳統(tǒng)分立方案,它不僅簡化了設(shè)計流程,還提升了系統(tǒng)的長期穩(wěn)定性與抗擾能力。

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